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电阻/电磁检测仪
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ZHBL2571型数字接地电阻测量仪
ZHBL2571型数字接地电阻测量仪被测接地开路或电流辅助接地电阻大于各量程上限值时,显示屏左下角有“OPEN CIRCUIT”指示。
数字接地电阻测量仪 型号:ZHBL2571
数字接地电阻测量仪 型号:ZHBL2571被测接地开路或电流辅助接地电阻大于各量程上限值时,显示屏左下角有“OPEN CIRCUIT”指示。
ZHM601A型 垂直法织物阻燃性能测试仪
ZHM601A型 垂直法织物阻燃性能测试仪适用于有阻燃要求的服装织物、装饰织物、帐篷织物等纺织品的阻燃性能测定
织物耐静水压试验仪 型号:ZHM217A/B
织物耐静水压试验仪 型号:ZHM217A/B本仪器适用于*水织物的耐静水压性能的测定,也可用来测定其它涂层材料的耐静水压性能
ZHM217A/B型 织物耐静水压试验仪
ZHM217A/B型 织物耐静水压试验仪本仪器适用于*水织物的耐静水压性能的测定,也可用来测定其它涂层材料的耐静水压性能
织物透湿量测定仪 型号:ZHM216C
织物透湿量测定仪 型号:ZHM216C美国标准用测定厚试样的方形透湿杯、测定薄试样的圆形透湿杯各4件;国标用透湿杯3件;英国标准用透湿杯4件
ZHM216C型 织物透湿量测定仪
ZHM216C型 织物透湿量测定仪该仪器用于测定**织物(包括透湿型涂层织物)以及絮棉、太空棉等用于服装非织造物的透湿(汽)性。透湿性可反映服装排汗、汽的性能,是鉴定服装的舒适性、卫生性的重要指标
织物透湿测试仪 型号:ZHM216A
织物透湿测试仪 型号:ZHM216A太空棉等用于服装非织造物的透湿(汽)性。透湿性可反映服装排汗、汽的性能,是鉴定服装的舒适性、卫生性的重要指标
ZHM216A型织物透湿测试仪
ZHM216A型织物透湿测试仪仪器具有PID自整定温度/湿度控制仪(配高精度PT100 传感器),温、湿度可以根据需要在仪器面板上设定
织物感应式静电测试仪 型号:ZHM401
织物感应式静电测试仪 型号:ZHM401基本原理是对试样加入不同挡位的直流电压,流经试样的微弱电流用标准电阻取样放大后,从高阻计上读出。数字直接显示出电阻值,精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便。
ZHM401型织物感应式静电测试仪
ZHM401型织物感应式静电测试仪仪器主机由电晕放电装置、探头和检测系统组成。利用给定的高压电场,对被测试样定时放电,使试样感应静电,从而进行静电电量大小、静电压半衰期、静电残留量的检测,以确定被测试样的静电性能。
ZHLFY-406型织物表面比电阻测试仪
ZHLFY-406型织物表面比电阻测试仪本仪器测量采用三电法对试样进行测试,其试验装置主要有平板式电装置和高阻计两部分组成。
织物表面比电阻测试仪 型号:ZHLFY-406
织物表面比电阻测试仪 型号:ZHLFY-406本仪器可用于测量**织物、薄膜以及其他*缘材料的表面电阻(表面电阻率),表面比电阻的大小可间接反映试验材料表面静电泄漏时间的长短,从而反映试验材料的带静电性能。
-具有测量结果超限和不正确测试条件报警功能
-具有测量结果超限和不正确测试条件报警功能 可存储 1,000 条测量记录,提供有用于打印输出测量-具有测量结果超限和不正确测试条件报警功能 可存储 1,000 条测量记录,提供有用于打印输出测量
三线法接地电阻测试仪 德国 型号:ZH7-MI-2125
三线法接地电阻测试仪 德国 型号:ZH7-MI-2125即使存在杂散电流和较高测试探头电阻,亦可实现的测量结果
ZHTH2512B型直流低电阻测试仪
ZHTH2512B型直流低电阻测试仪 应用于生产线,可使用HANDLER接口及GPIB接口(选件)输出良品/**品信号,以提高生产线自动化测试能力。
直流低电阻测试仪 型号: ZHTH2512B
直流低电阻测试仪 型号: ZHTH2512B适用于变压器及电感线圈铜阻、继电器接触电阻、开关、接插件接触电阻、导线电阻、元件焊点接触电阻、印制板线条及焊孔电阻、金属探伤等。应用于生产线,可使用HANDLER接口及GPIB接口(选件)输出良品/**品信号,以提高生产线自动化测试能力。
ZHKDY-2型两探针电阻率测试仪
ZHKDY-2型两探针电阻率测试仪本仪器主要由电气测量部份(简称:主机)、测试台及两探针头组成。仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以**之几的精度)适时监测程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,*及时掌控测量电流。
ZHKDY-2型型两探针电阻率测试仪
ZHKDY-2型型两探针电阻率测试仪是按照我国标准仪器采用GB/T 1551-1995硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法及美国材料与试验协会(ASTM)推荐的材料验收检测方法“两探针法”设计。
数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号:ZHLT-100C
数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号:ZHLT-100C证明是一种成熟的测试方法,**适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量;也可对硅片进行测量,给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面,制样简便。
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